【導(dǎo)讀】作為一名合格的電子工程師，要了解PCB電路板設(shè)計(jì)，PCB電路板測(cè)試、檢驗(yàn)及設(shè)計(jì)規(guī)范是必修課程，但是對(duì)于一些剛?cè)胄械牟锁B(niǎo)工程師來(lái)說(shuō)，缺失這部分知識(shí)點(diǎn)也是硬傷，本文就為大家總結(jié)以下，幫助大家成長(zhǎng)。
1、Acceptability，acceptance 允收性，允收：
前者是指在對(duì)半成品或成品進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，所應(yīng)遵守的各種作業(yè)條件及成文準(zhǔn)則。后者是指執(zhí)行允收檢驗(yàn)的過(guò)程，如 Acceptance Test。
2、Acceptable Quality Level（AQL） 允收品質(zhì)水準(zhǔn)：
系指被驗(yàn)批在抽檢時(shí)，認(rèn)為能滿足工程要求之“不良率上限”，或指百分缺點(diǎn)數(shù)之上限。AQL并非為保護(hù)某特別批而設(shè)，而是針對(duì)連續(xù)批品質(zhì)所定的保證。
3、Air Inclusion 氣泡夾雜：
在板材進(jìn)行液態(tài)物料涂布工程時(shí)，常會(huì)有氣泡殘存在涂料中，如膠片樹(shù)脂中的氣泡，或綠漆印膜中的氣泡等，這種夾雜的氣泡對(duì)板子電性或物性都很不好。
4、AOI 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)：
AutomaTIc OpTIcal InspecTIon，是利用普通光線或雷射光配合計(jì)算機(jī)程序，對(duì)電路板面進(jìn)行外觀的視覺(jué)檢驗(yàn)，以代替人工目檢的光學(xué)設(shè)備。
5、AQL 品質(zhì)允收水準(zhǔn)：
Acceptable Quality Level，在大量產(chǎn)品的品檢項(xiàng)目中，抽取少量進(jìn)行檢驗(yàn)，再據(jù)以決定整批動(dòng)向的品管技術(shù)。
6、ATE 自動(dòng)電測(cè)設(shè)備：
為保證完工的電路板其線路系統(tǒng)的通順，故需在高電壓（如 250 V）多測(cè)點(diǎn)的泛用型電測(cè)母機(jī)上，采用特定接點(diǎn)的針盤(pán)對(duì)板子進(jìn)行電測(cè)，此種泛用型的測(cè)試機(jī)謂之 AutomaTIc Testing Equipment。
7、Blister 局部性分層或起泡：
在電路制程中常會(huì)發(fā)生局部板面或局部板材間之分層，或局部銅箔浮離的情形，均稱為 Blister。另在一般電鍍過(guò)程中亦常因底材處理不潔，而發(fā)生鍍層起泡的情形，尤其以鍍銀對(duì)象在后烘烤中最容易起泡。
8、Bow，Bowing 板彎：
當(dāng)板子失去其應(yīng)有的平坦度（Flatness）后，以其凹面朝下放在平坦的臺(tái)面上，若無(wú)法保持板角四點(diǎn)落在一個(gè)平面上時(shí)，則稱為板彎或板翹（Warp 或Warpage），若只能三點(diǎn)落在平面上時(shí)，稱為板扭（Twist）。不過(guò)通常這種扭翹的情況很輕微不太明顯時(shí)，一律俗稱為板翹（Warpage）。
9、Break-Out 破出：
是指所鉆的孔已自配圓（Pad）范疇內(nèi)破出形成斷環(huán)情形；即孔位與待鉆孔的配圓（Pad）二者之間并未對(duì)準(zhǔn)，使得兩個(gè)圓心并未落在一點(diǎn)上。當(dāng)然鉆孔及影像轉(zhuǎn)移二者都有可能是對(duì)不準(zhǔn)或破出的原因。但板子上好幾千個(gè)孔，不可能每個(gè)都能對(duì)準(zhǔn)，只要未發(fā)生“破出”，而所形成的孔環(huán)其最窄處尚未低于規(guī)格（一般是2 mil 以上），則可允收。
10、Bridging 搭橋、橋接：
指兩條原本應(yīng)相互隔絕的線路之間，所發(fā)生的不當(dāng)短路而言。
11、Certificate證明文書(shū)：
當(dāng)一特定的“人員訓(xùn)練”或“品質(zhì)試驗(yàn)”執(zhí)行完畢，且符合某一專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，特以書(shū)面文字記載以茲證明的文件，謂之 Certificate。
12、Check List 檢查清單：
廣義是指在各種操作前，為了安全考慮所應(yīng)逐一檢查的項(xiàng)目。狹義指的是在PBC 業(yè)中，客戶到現(xiàn)場(chǎng)卻對(duì)品質(zhì)進(jìn)行了解，而逐一稽查的各種項(xiàng)目。
13、Continuity 連通性：
指電路中（Circuits）電流之流通是否順暢的情形。另有 Continuity Testing是指對(duì)各線路通電情況所進(jìn)行的測(cè)試，即在各線路的兩端各找出兩點(diǎn)，分別以彈性探針與之做緊迫接觸（全板以針床實(shí)施之），然后施加指定的電壓 （通常為實(shí)用電壓的兩倍 ）， 對(duì)其進(jìn)行“連通性試驗(yàn)”，也就是俗稱的 Open/Short Testing （斷短路試驗(yàn)）。
14、Coupon，Test Coupon 板邊試樣：
電路板欲了解其細(xì)部品質(zhì)，尤其是多層板的通孔結(jié)構(gòu)，不能只靠外觀檢查及電性測(cè)試，還須對(duì)其結(jié)構(gòu)做進(jìn)一步的微切片 （Microsectioning）顯微檢查。因此需在板邊一處或多處，設(shè)置額外的“通孔及線路”圖樣，做為監(jiān)視該片板子結(jié)構(gòu)完整性（Structure Integraty）的解剖切片配合試樣 （Conformal Coupon）。品質(zhì)特嚴(yán)者，凡當(dāng)切樣不及格時(shí)，該片板子也將不能出貨。注意；這種板邊切片，不但可當(dāng)成出貨的品檢項(xiàng)目，也可做為問(wèn)題之對(duì)策研究，及品質(zhì)改進(jìn)的監(jiān)視工具。 除微切片試樣外， 板邊有時(shí)也加設(shè)一種檢查 “特性阻抗” 的特殊Coupon，以檢查每片多層板的“阻抗值”是否仍控制在所規(guī)定的范圍內(nèi)。
15、Crazing 白斑：
是指基板外觀上的缺點(diǎn)，可能是由于局部的玻纖布與環(huán)氧樹(shù)脂之間，或布材本身的紗束之間出現(xiàn)分裂，由外表可看到白色區(qū)域稱為 Crazing。較小而又只在織點(diǎn)上出現(xiàn)者，稱為“白點(diǎn)”（Measling）。另外當(dāng)組裝板外表所涂布的護(hù)形膜（Conformal Coating），其破裂也稱為 Crazing。通常一般日用品瓷器，或瓷磚，在長(zhǎng)時(shí)間使用老化后，也因與力的釋放，而在表面上出現(xiàn)不規(guī)則的裂紋，亦稱為 Crazing。
16、Crosshatch Testing十字割痕試驗(yàn)：
是對(duì)板面皮膜附著力的一種破壞性試驗(yàn)。系按ASTM D3359之膠帶撕起法為藍(lán)本而稍加改變，針對(duì)板面各種干濕式皮膜的附著力試驗(yàn)。采多刃口之割劃刀在皮膜表面垂直縱橫割劃，切成許多小方塊再以膠帶緊壓然后用力撕起。各方塊切口平滑且全未撕脫者以予 5分，切口均有破屑又被撕起的方塊在35～65% 之間者只給1分，更糟者為 0分。連做數(shù)次進(jìn)行對(duì)比，其總積分即為皮膜附著力的評(píng)分?jǐn)?shù)。
17、Dendritic Growth 枝狀生長(zhǎng)：
指電路板面兩導(dǎo)體之間在濕氣環(huán)境中，又受到長(zhǎng)期電壓（偏壓）的影響，而出現(xiàn)金屬離子性之樹(shù)枝狀蔓延生長(zhǎng)，最后將越過(guò)絕緣的板材表面形成搭接，發(fā)生漏電或短路的情形，謂之“枝狀生長(zhǎng)”。又當(dāng)其不斷滲入絕緣材料中時(shí)，則稱為Dendritic Migration 或 Dentrices。
18、Deviation 偏差：
指所測(cè)得的數(shù)據(jù)并不好，其與正常允收規(guī)格之間的差距，謂之 Deviation。
19、Eddy Current渦電流：
在PCB業(yè)中，是一種測(cè)量各種皮膜厚度的工作原理及方法，可測(cè)非磁性金屬底材之非導(dǎo)體皮膜厚度（如銅面的樹(shù)脂層或綠漆厚度）當(dāng)在一鐵心的測(cè)頭（Probe）上繞以線圈，施加高頻率振蕩的交流電（100KHz~6MHz），而令其產(chǎn)生磁場(chǎng)。當(dāng)此測(cè)頭接觸待測(cè)厚的表面時(shí)，其底金屬層中（如銅）會(huì)被感應(yīng)而產(chǎn)生“渦電流”，此渦電流的訊號(hào)又會(huì)測(cè)頭所偵測(cè)到。凡表面非導(dǎo)體皮膜愈厚者，其阻絕渦電流的效果愈大，使測(cè)頭能接受到的訊號(hào)也愈弱。反之膜愈薄者，則測(cè)頭能接受到的訊號(hào)愈強(qiáng)。因而可利用此種原理對(duì)非導(dǎo)體皮膜進(jìn)行測(cè)厚。一般可測(cè)鋁材表面的陽(yáng)極處理膜厚度，銅箔基板上的基材厚度，及任何類似的組合。一般電路系統(tǒng)中也會(huì)產(chǎn)生渦電流，但卻為只能發(fā)熱而浪費(fèi)掉的無(wú)效電流。
20、Dish Down 碟型下陷：
指電路板面銅導(dǎo)體線路上有局部區(qū)域，因受到壓合時(shí)不當(dāng)?shù)膱A形壓陷，且經(jīng)蝕刻后又不巧仍留在線路上，稱為“碟陷”。在高速傳輸?shù)木€路中，此種局部下陷處會(huì)造成阻抗值的突然變化，對(duì)整體功能不利，故應(yīng)盡量設(shè)法避免。
21、Edge-Dip Solderability Test板邊焊錫性測(cè)試：
是一種電路板（ 或其它零件腳）焊錫性的簡(jiǎn)易測(cè)試法，可將特定線路的樣板，在沾過(guò)助焊劑后，以測(cè)試機(jī)或手操作方式夾住，垂直慢慢壓入熔融的錫池內(nèi)，停留1~2秒后再以定速取出，洗凈后可觀察板子表面導(dǎo)體或通孔的沾錫性情形。
22、Eyelet 鉚眼：
是一種青銅或黃銅制作的空心鉚釘，當(dāng)電路板上發(fā)現(xiàn)某一通孔斷裂時(shí)，即可加裝上這種“Eyelet”，不但可維持導(dǎo)電功能，亦可接受插焊零件。不過(guò)由于業(yè)界對(duì)電路板品質(zhì)的要求日嚴(yán)，使得補(bǔ)加 Eyelet 的機(jī)會(huì)也愈來(lái)愈少了。
23、Failure 故障，損壞：
指產(chǎn)品或零組件無(wú)法達(dá)成正常功能之情形。
24、Fault 缺陷，瑕疵：
當(dāng)零組件或產(chǎn)品上出現(xiàn)一些不合規(guī)范的品質(zhì)缺點(diǎn)，或因不良因素而無(wú)法進(jìn)行正常操作時(shí)，謂之Fault。
25、Fiber Exposure 玻纖顯露：
是指基材表面當(dāng)受到外來(lái)的機(jī)械摩擦、化學(xué)反應(yīng)等攻擊后，可能失去其外表所覆蓋的樹(shù)脂層（Butter Coat），露出底材的玻纖布，稱為“Fiber Exposure”，又稱為“Weave Exposure織紋顯露”，在孔壁上出現(xiàn)切削不齊的玻纖束則稱為玻纖突出（Protrusion）。
26、First Article 首產(chǎn)品：
各種零件或組裝產(chǎn)品，為了達(dá)到順利量產(chǎn)的目的，各已成熟的工序、設(shè)備、用料及試驗(yàn)檢驗(yàn)等，在整體配合程度是否仍有瑕疵，而所得到的產(chǎn)品是否能夠符合各種既定的要求等，皆應(yīng)事先充分了解，使于量產(chǎn)之前尚有修正的機(jī)會(huì)。為了此等目的而試產(chǎn)的首件或首批小量產(chǎn)品，稱為First Article。
27、First Pass-Yield 初檢良品率：
制造完工的產(chǎn)品，按既定的規(guī)范對(duì)各待檢項(xiàng)目做過(guò)初檢后，已合格的產(chǎn)品占全數(shù)產(chǎn)品的比例，稱為初檢良品率（或稱First Accept Rate ），是制程管理良好與否的一種具體指針。
28、Fixture 夾具：
指協(xié)助產(chǎn)品在制程中進(jìn)行各種操作的工具，如電路板進(jìn)行電測(cè)的針盤(pán)，就是一種重要的夾具。日文稱為“治具”。
29、Flashover 閃絡(luò)：
指板面上兩導(dǎo)體線路之間（即使已有綠漆），當(dāng)有電壓存在時(shí)，其間絕緣物的表面產(chǎn)生一種“擊穿性的放電”（Disruptive discharge），稱為“閃絡(luò)”。
30、Flatness平坦度：
是板彎（Bow）板翹 （Twist）的新式表達(dá)法。早期在波焊插裝時(shí)代的板子，對(duì)板面平坦度的要求不太講究， IPC規(guī)范對(duì)一般板厚的上限要求是1％。近年之SMT 時(shí)代，板子整體平坦對(duì)錫膏焊點(diǎn)的影響極大，已嚴(yán)加要求不平坦的彎翹程度必須低于0.7％，甚至0.5％。因而各種規(guī)范中均改以觀念更為強(qiáng)烈的“平坦度”代替早期板彎與板翹等用語(yǔ)。
31、Foreign Material 外來(lái)物，異物：
廣義是指純質(zhì)或調(diào)制的各種原物料中，存在一些不正常的外來(lái)物，如槽液中的灰、砂、與阻劑碎屑；或指板材樹(shù)脂中與鍍層的異常顆粒等。狹意則專指熔錫層或焊錫層中被全封或半掩的異物，形成粗糙、縮錫，或塊狀不均勻的外表。
32、Gage，Gauge 量規(guī)：
此二字皆指測(cè)量所用的測(cè)計(jì)，如測(cè)孔徑的“孔規(guī)”即是。
33、Golden Board 測(cè)試用標(biāo)準(zhǔn)板：
指完工的電路板在進(jìn)行電性連通性（Continuity）測(cè)試時(shí)（Testing），必須要有一片已確知完好正確的同料號(hào)板子做為對(duì)比，此標(biāo)準(zhǔn)板稱為 Golden Board。
34、Hi-Rel 高可靠度：
是 High-Reliability 的縮寫(xiě)，通常電路板按其所需的功能及品質(zhì)可分成三種等級(jí)，其中第三級(jí)（Class 3）是最高級(jí)者，即為“高可靠度品級(jí)”。
35、Hole breakout 孔位破出：
簡(jiǎn)稱為“破出”Breakout，是指所鉆作之成形孔，其部份孔體已座落在銅盤(pán)區(qū)或方形銅墊區(qū) （Pad）之外，使得孔壁未能受到孔環(huán)的完全包圍，也就是孔環(huán)已呈破斷而不完整情形，對(duì)于層間互連通電的可靠度，自然大打折扣。一般板子之所以造成“破出”，影像轉(zhuǎn)移偏斜的責(zé)任要大于鉆孔的不準(zhǔn)。
36、Hole Counter 數(shù)孔機(jī)：
是一種利用光學(xué)原理對(duì)孔數(shù)進(jìn)行自動(dòng)檢查的機(jī)器，可迅速檢查所鉆過(guò)的板子是否有漏鉆或塞孔的情形存在。
37、Hole void 破洞：
指已完成化學(xué)銅及兩次電鍍銅的通孔壁上，若因處理過(guò)程的疏忽或槽液狀況的不佳，而造成孔壁上存在“見(jiàn)到底材”的破洞稱為 Void 。這種孔壁破洞對(duì)于插孔焊接的品質(zhì)有惡劣的影響，常因水氣被吸入而藏納在破洞中，造成高溫焊接時(shí)有氣體自破處向外噴出，使通孔中之填錫在凝固前被吹成空洞，使得此種通孔成為惡名昭彰吹孔 （Blow Hole），故知“破洞”實(shí)為吹孔的元兇。左圖中之 A 及 B 均為見(jiàn)底的破洞，后者為大破洞， C 為未見(jiàn)底的破洞。 美軍規(guī)范MIL-P-55110D 規(guī)定凡孔銅厚度在 0.8 mil 以下者皆視同“破洞”，可謂非常嚴(yán)格。
38、Inclusion 異物、夾雜物：
在 PCB 中是指絕緣性板材的樹(shù)脂中，可能有外來(lái)的雜質(zhì)混入其中，如金屬導(dǎo)體之鍍層或錫渣，以及非導(dǎo)體之各種異物等，皆稱為 Inclusion。此種基材中的異物將可能引起板面線路或?qū)哟沃g的漏電或短路，為品檢的項(xiàng)目之一。
39、Insulation Resistance 絕緣電阻：
是指介于兩導(dǎo)體之間的板材其耐電壓之絕緣性而言，以伏特?cái)?shù)做為表達(dá)單位。此處“兩導(dǎo)體之間”，可指板面上相鄰兩導(dǎo)體，或多層板兩相鄰兩層之間的導(dǎo)體。其測(cè)試方法是將特殊細(xì)密的梳形線路試樣，故意放置在高溫高濕的劣化環(huán)境中加以折騰，以考驗(yàn)其絕緣的品質(zhì)如何。 標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)法可見(jiàn) IPC-TM-650， 2.6.3D （Nov.88）之“濕氣及絕緣電阻”試驗(yàn)法。此詞亦有近似術(shù)語(yǔ) SIR。
40、Isolation隔離性，隔絕性：
本詞正確含意是指板面導(dǎo)體線路之間的間距（Spacing） 品質(zhì)，此間距品質(zhì)的好壞，須以針床電測(cè)方式去做檢查。按最廣用的國(guó)際規(guī)范IPC-RB-276在其3. 12. 2. 2節(jié)中規(guī)定，在直流測(cè)試電壓200V，歷經(jīng)5秒鐘的過(guò)程中，所得電阻讀值之及格標(biāo)準(zhǔn)，就Class 1的低階板類而言，須在0.5MΩ以上；至于 Class 2與3高階的板類，則皆須超過(guò) 2MΩ，此種“隔離性”即俗稱負(fù)面說(shuō)法之找“短路” （Short）或測(cè)漏電 （Leakage） 。多數(shù)業(yè)者常將此項(xiàng)電測(cè)誤稱為“絕緣品質(zhì)”之測(cè)試，此乃中外通病，多數(shù)業(yè)者均未深入認(rèn)知之故，其實(shí)“絕綠”（Insulation）是指板材或材料本身之耐電性品質(zhì)，而并非表達(dá)線路“間距”的制做品質(zhì)如何。至于銅渣、銅碎，或?qū)щ娨何磸氐紫幢M等缺失，均將造成“間距品質(zhì)”之不良。業(yè)者日久積非成是，連最基本的定義都模糊了。完工電路板出貨前之常規(guī)電測(cè)共有兩項(xiàng)，除上述之Isolation外，另一項(xiàng)就是測(cè)其線路的連通性 （Continuity）。按 IPC-RB-276之3. 12. 2. 1.規(guī)定，在5V 測(cè)試電壓下，Class 1低階板類的連通品質(zhì)須低于50Ω 之電阻。Class 2與3高階板粉連通品質(zhì)須低于 20Ω。此項(xiàng)測(cè)試亦即負(fù)面俗稱之找“斷路Open”。故知業(yè)者人人都能朗朗上口的“Open Short Test”，其實(shí)都是不專業(yè)的負(fù)面俗稱而已。專業(yè)的正確說(shuō)法應(yīng)為“Continuity/Ioslation Testing”才對(duì)。
41、Lifted Land 孔環(huán)（或焊墊）浮起：
電路板的通孔其兩端都配有孔環(huán)，如同鞋帶扣環(huán)一樣牢牢來(lái)緊在鞋面上。當(dāng)板子在組裝焊接時(shí)受到強(qiáng)熱，將會(huì)產(chǎn)生 X、Y，及 Z 方向的膨脹。尤其在 Z 方向上，由于基材中“樹(shù)脂部份”的膨脹將遠(yuǎn)大于通孔的“銅壁”，因而連帶孔環(huán)外緣也被頂起。由于銅箔的毛面與板材樹(shù)脂之間的附著力，已受到此膨脹拉扯的傷害，故當(dāng)板子冷卻收縮時(shí)，孔環(huán)外緣部份將無(wú)法再隨樹(shù)脂而縮回，因而出現(xiàn)分離浮開(kāi)的現(xiàn)象。此種缺點(diǎn)在 1992年以前的 IPC-ML-950C（見(jiàn) 3.11.3）或 IPC-SD-320B（見(jiàn) 3.11.3），皆規(guī)定最大只能浮開(kāi) 3 mil;且還要求仍附著而未浮開(kāi)的環(huán)寬，至少要占全環(huán)寬度的一半以上。不過(guò)這種規(guī)定已在新發(fā)行的 IPC-RB-276（Mar.1992）完全取消了（詳見(jiàn)電路板信息雜志第 58 期 P.79 表 10）。
42、Major Defect 嚴(yán)重缺點(diǎn)，主要缺點(diǎn)：
指檢驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺點(diǎn)，達(dá)影響嚴(yán)重的“認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)”時(shí)，即認(rèn)定為嚴(yán)重缺點(diǎn)，未達(dá)認(rèn)定者則稱為“次要缺點(diǎn)”Minor Defect。Major 原義是表達(dá)主要或重要的意念。如主要功能、主要干部等為正面表達(dá)方式，若用以形容負(fù)面的“缺點(diǎn)”時(shí)，似乎有些不搭調(diào)，故以譯為“嚴(yán)重缺點(diǎn)”為宜。上述對(duì) PCB 所出現(xiàn)缺點(diǎn)的認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)，則有各種不同情況，有明文規(guī)定者則以 MIL-P-55110D 最為權(quán)威。
43、Mealing 起泡點(diǎn)：
按 IPC-T-50E 的解釋是指已組裝之電路板，其板面所涂裝的護(hù)形漆（Conformal Coating），在局部板面上發(fā)生點(diǎn)狀或片狀的浮離，也可能是從零件上局部浮起，稱為泡點(diǎn)或起泡。
44、Measling 白點(diǎn)：
按 IPC-T-50E 的解釋是指電路板基材的玻纖布中，其經(jīng)緯紗交織點(diǎn)處，與樹(shù)脂間發(fā)生局部性的分離。其發(fā)生的原因可能是板材遭遇高溫，而出現(xiàn)應(yīng)力拉扯所致。不過(guò) FR-4 的板材一旦被游離氟的化學(xué)品（如氟硼酸）滲入，使玻璃受到較嚴(yán)重的攻擊，將會(huì)在各交織上呈現(xiàn)規(guī)則性的白點(diǎn)，稱為 Measling。
45、Minimum Annular Ring 孔環(huán)下限：
當(dāng)板面上各圓墊（Pads）經(jīng)鉆孔后，圍繞在孔外之“孔環(huán)”（Annular Ring），其最窄處的寬度將做為檢測(cè)的對(duì)象，而規(guī)范上對(duì)該處允收的下限值，謂之“孔環(huán)下限”。這是PCB 品質(zhì)與技術(shù)的一種客觀標(biāo)準(zhǔn)。由于圓墊的制作在先（即阻劑與蝕刻），而鉆孔加工之呈現(xiàn)孔環(huán)在后，兩種制程工序之間的配合必須精確，稍有閃失即不免出現(xiàn)偏歪，造成孔環(huán)的幅度寬窄不一。其最窄處須保持的寬度數(shù)據(jù)，各種成文規(guī)范上都已有規(guī)定，如 IPC-RB-276 之表6中各種數(shù)據(jù)即是。以PC計(jì)算機(jī)的主機(jī)板而言，應(yīng)歸屬于Class 2 品級(jí)，其“孔環(huán)下限”須為2 mil 。按下列 IPC-D-275中之兩圖（Fig 5-15 及 5-16）看來(lái)，內(nèi)層孔環(huán)的界定將不含孔壁在內(nèi)，而外層之孔環(huán)則又須將孔壁計(jì)算在內(nèi)。
46、Misregistration 對(duì)不準(zhǔn)，對(duì)不準(zhǔn)度：
在電路板業(yè)是指板子正反兩面，其應(yīng)相互對(duì)齊的某些成員（如金手指或孔環(huán)等），一旦出現(xiàn)偏移時(shí)，謂之“對(duì)不準(zhǔn)”。此詞尤指多層板其各通孔外，所套接各層孔環(huán)之間的偏歪，稱之為“層間對(duì)不準(zhǔn)”，在微切片技術(shù)上很容易測(cè)量出其“對(duì)不準(zhǔn)度”的數(shù)據(jù)來(lái)。下圖即為美軍規(guī)范 MIL-P-5511D 中，于 “對(duì)不準(zhǔn)” 上的解說(shuō)。此詞大陸業(yè)界稱為“重合”或“不重合”
47、Nick 缺口：
電路板上線路邊緣出現(xiàn)的缺口稱為 Nick。另一字 Notch 則常在機(jī)械方面使用，較少見(jiàn)于 PCB 上。又 Dish-down 則是指線路在厚度方面的局部下陷處。
48、Open Circuits 斷線：
多層板之細(xì)線內(nèi)層板經(jīng)正片法直接蝕刻后，常發(fā)生斷線情形，可用自動(dòng)光學(xué)檢查法加以找出，若斷線不多可采小型熔接（Welding）“補(bǔ)線機(jī)”進(jìn)行補(bǔ)救。外層斷線則可采用選擇“刷鍍” （Brush Plating） 銅方式加以補(bǔ)救（見(jiàn)附圖）。在現(xiàn)代要求嚴(yán)格的品質(zhì)下，此等修補(bǔ)工作都要事先得到客戶的同意，且相關(guān)文件都要存盤(pán)，以符合 ISO-9002精神。
49、Optical Comparater 光學(xué)對(duì)比器（光學(xué)放大器）：
是一種將電路板實(shí)物或底片，藉由光線之透射與反射，再經(jīng)機(jī)器之透鏡放大系統(tǒng)或電子聚焦方式，由顯示屏得到清晰的畫(huà)面，以協(xié)助目視檢查。如圖所示美國(guó) OTI 公司出品之Optek 104機(jī)種，其成像即可放大達(dá) 300 倍，且有直流馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X、Y 可移臺(tái)面，能靈活選取所要觀察的定點(diǎn)。此種“光學(xué)對(duì)比器”之功能極多，可用于檢查、測(cè)量、溝通討論等，皆十分方便。另如程序打帶機(jī)上亦裝有較簡(jiǎn)單的“學(xué)對(duì)比器”，俾能放大對(duì)準(zhǔn)所需尋標(biāo)的孔位，以使正確的打出 X 及 Y 數(shù)據(jù)的紙帶來(lái)。
50、Optical Inspection 光學(xué)檢驗(yàn)：
這是近10年來(lái)才在電路板領(lǐng)域中發(fā)展成熟的檢驗(yàn)技術(shù)，也就是所謂的“ 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) ” （AOI）。是利用計(jì)算機(jī)將正確的線路圖案，以數(shù)字方式存在記憶中，再據(jù)以對(duì)所生產(chǎn)的板子，進(jìn)行快速的掃瞄及對(duì)比檢查。此法可代替目檢找出短路或斷路的異常情形，對(duì)多層板的內(nèi)層板最有效益。但這種“光學(xué)檢查”并非萬(wàn)能，免不了力有未逮之處，還須配合“電性測(cè)試”，方能加強(qiáng)出貨板之可靠性。
51、Optical Instrument 光學(xué)儀器：
電路板在制程中及成品上的檢查，常需用到某些與“光學(xué)”有關(guān)的儀器，如以“光電管”方式檢測(cè)槽液濃度的監(jiān)控儀器，又如看微切片的的高倍斷層顯微鏡，或低倍立體顯微鏡，以及結(jié)合電子技術(shù)而更趨精密的“光學(xué)對(duì)比儀”、SEM、TEM等電子顯微鏡，甚至很簡(jiǎn)單的放大鏡，皆屬光學(xué)儀器。目前其等功能已日漸增強(qiáng)，效果也改善極多。不過(guò)此等現(xiàn)代化的設(shè)備價(jià)格都很貴，使得高級(jí)PCB也因之水漲船高。
52、Pinhole針孔：
廣義方面各種表層上能見(jiàn)到底材的透孔均稱為針孔，在電路板則專指線路或孔壁上的外觀缺點(diǎn)。如圖即為四種在程度上不同的缺點(diǎn)，分別稱為Dents（凹陷）、Pits（凸點(diǎn)）、針孔（Pinhole）與破洞（Voids）等情形。
53、Pits凹點(diǎn)：
指金屬表層上所呈現(xiàn)小面積下陷的凹點(diǎn)，當(dāng)鍍光澤鎳制程管理不善（有機(jī)污染） 時(shí)，在高電流區(qū)常出現(xiàn)密集的凹點(diǎn)，其原因是眾多氫氣聚集附著所致一般荒者常將此詞與“針孔Pin Hole”混為一談，事實(shí)上Pits是不見(jiàn)底的小孔，與見(jiàn)底的針孔并不相同。
54、Pogo Pin伸縮探針：
電測(cè)機(jī)以針床進(jìn)行電測(cè)時(shí) （Bed of Nail Testing） ，其探針前段分為外套與內(nèi)針兩部份。內(nèi)部裝有彈簧，在設(shè)定壓力之針盤(pán)對(duì)準(zhǔn)待測(cè)板面測(cè)點(diǎn)接觸時(shí)，可使上千支針尖同時(shí)保持其導(dǎo)通所需的彈力，此種伸縮性探針謂之Pogo Pin。此種探針又稱為 Spring Probe，當(dāng)QFP在256腳以上，腳距密集到 15mil 時(shí)，必須采交錯(cuò)式觸壓在測(cè)墊上，以避免探針本身太近而搭靠短路。
55、Probe探針，探棒：
是一種具有彈性能維持一定觸壓，對(duì)待測(cè)電路板面之各測(cè)點(diǎn)，實(shí)施緊迫接觸，讓測(cè)試機(jī)完成應(yīng)有的電性測(cè)試，此種鍍金或鍍銠的測(cè)針，謂之Probe。
56、Qualification Agency資格認(rèn)證機(jī)構(gòu)：
美國(guó)軍品皆由民間企業(yè)所供應(yīng)，但與美國(guó)==或軍方交易之前，該供貨商必須先取得“合格供貨商”的資格。以PCB為例，不但所供應(yīng)的電路板須通過(guò)軍規(guī)的檢驗(yàn)，而且供貨商本身也要通過(guò)軍規(guī)的資格考試，此“資格認(rèn)證機(jī)構(gòu)”即是對(duì)供貨商文件的審核、品質(zhì)檢驗(yàn)，與試驗(yàn)監(jiān)督等之專責(zé)單位。
57、Qualification Inspection資格檢驗(yàn)：
指供貨商在對(duì)任何產(chǎn)品進(jìn)行接單生產(chǎn)之前，應(yīng)先對(duì)客戶指定的樣板進(jìn)行打樣試做，以展示自己的工程及品管的能力，在得到客戶認(rèn)可批準(zhǔn)而被列為合格供貨商后，才能繼續(xù)制作各種料號(hào)的實(shí)際產(chǎn)品。此種全部正式“資格認(rèn)可”的檢驗(yàn)過(guò)程，稱為Qualification Inspection。
58、Qualified Products List合格產(chǎn)品（供應(yīng)者）名單：
是美國(guó)軍方的用語(yǔ)。以電路板為例，如某一供貨商已通過(guò)軍方的資格檢驗(yàn)，可對(duì)某一板類進(jìn)行生產(chǎn)，于是軍方即將該公司的名稱地址等，登載于一種每年都重新發(fā)布的名單中，以供美國(guó)==各采購(gòu)單位的參考。此QPL原只適用于美國(guó)國(guó)內(nèi)的業(yè)界，現(xiàn)亦開(kāi)放給外國(guó)供貨商。要注意的是此種QPL僅針對(duì)產(chǎn)品種類而列名，并非針對(duì)供貨商的承認(rèn)。例如某電路板廠雖可生產(chǎn)單雙面及多層與軟板等，但資格考試時(shí)只通過(guò)了雙面板，于是QPL中只在雙面板項(xiàng)目下列入其名，其它項(xiàng)目則均不列入，故知QPL是只認(rèn)可產(chǎn)品而不是承認(rèn)廠商。目前這種QPL制度有效期為三年，到期后還要重新申請(qǐng)認(rèn)可。
59、Quality Conformance Test Circuitry（Coupon）品質(zhì)符合之試驗(yàn)線路（樣板）：
是放置在電路板“制程板面”（Process Panel）外緣，為一種每組七個(gè)特殊線路圖形的樣板，可用以判斷該片板子是否能通過(guò)各項(xiàng)品檢的根據(jù)。不過(guò)此種“板邊試樣”組合，大都出現(xiàn)在軍用板或高可靠度板類中，一般商用板則較少用到這么麻煩的試樣。
60、Rejection剔退，拒收：
當(dāng)所制造之產(chǎn)品，在某些品檢項(xiàng)目中測(cè)得之?dāng)?shù)據(jù)與規(guī)范不合時(shí)，即無(wú)法正常允收過(guò)關(guān)，謂之Rejection或 Reject。
61、Repair修理：
指對(duì)有缺陷的板子所進(jìn)行改善的工作。不過(guò)此一Repair 的動(dòng)作程度及范圍都比較大，如鍍通孔斷裂后援救所加裝的套眼（Eyelet），或斷路的修補(bǔ)等，必須征求客戶的同意后才能施工，與小動(dòng)作的“重工”Rework不太相同。
62、Rework（ing）重工，再加工：
指已完工或仍在制造中的產(chǎn)品上發(fā)現(xiàn)小瑕疵時(shí)，隨即采用各種措施加以補(bǔ)救，稱為“Rework”。通常這種“重工”皆屬小規(guī)模的動(dòng)作，如板翹之壓平、毛邊之修整或短路之排除等，在程度上比 Repair 要輕微很多。
63、Scratch刮痕：
在物體表面出現(xiàn)的各式溝狀或V槽狀的刮痕，謂之。
64、Short短路：
當(dāng)電流不應(yīng)相通的兩導(dǎo)體間，在不正常情況下一旦出現(xiàn)通路時(shí)，稱之為短路。
65、Sigma（Standard Deviation）標(biāo)準(zhǔn)差：
是統(tǒng)計(jì)學(xué)上的名詞。當(dāng)進(jìn)行品管取樣而得到許多數(shù)據(jù)時(shí)，首先可求得各數(shù)據(jù)的算數(shù)平均值X （即總和除以樣本數(shù)），然后再求得各單獨(dú)樣本值與平均值的差值，稱為“偏差”（Deviation如X1-X，X2-X，…… Xn-X），并進(jìn)一步求取各“偏差值”的“均方根”數(shù)值（RMS， Root Mean Square Value），即得到所謂的“標(biāo)準(zhǔn)差Standard Deviation”。一般是以希臘字母σ（讀音Sigma）做為代表符號(hào)，“標(biāo)準(zhǔn)差”可做為統(tǒng)計(jì)制程管制的工具。σ＝（√（（X1－X）2＋（X2－X）2＋X3－X）2＋。..（Xn－X）2））/n按常態(tài)分配（Normal Distribution）之標(biāo)準(zhǔn)鐘形曲線（Bell Curve），若從負(fù)到正將所涵蓋的面積全部加以積分，以所得數(shù)值當(dāng)成 100％ 時(shí)，則 ±3δ 所管轄的面積將達(dá)到 99.73％ ，也就是說(shuō)此時(shí)不良品能成為漏網(wǎng)之魚(yú)者，其機(jī)率僅及 0. 27％而已。最近亦有不少大電子公司強(qiáng)調(diào)要加強(qiáng)品管，暢言要提升至 ±6δ的地步，陳義太高一時(shí)尚不易做到。
66、Sliver邊絲，邊條：
板面線路之兩側(cè)，其最上緣表面處，因鍍層厚度一旦超過(guò)阻劑厚度，將發(fā)生兩側(cè)橫向生長(zhǎng)的情形。此種細(xì)長(zhǎng)的懸邊因正下方并無(wú)支撐，常容易斷落留在板上，將可能出現(xiàn)短路的情形。此種已斷或未斷的邊條邊絲，即稱為Sliver。
67、Specification（Spec.）規(guī)范、規(guī)格：
規(guī)范是指各種物料、產(chǎn)品，及制程，其單獨(dú)正式成文的品質(zhì)或作業(yè)手冊(cè)。一般而言，此等文件具有文字嚴(yán)謹(jǐn)、配圖詳盡、考慮周到、參考詳實(shí)等特質(zhì)。至于對(duì)某項(xiàng)特殊要求的具體及格數(shù)字，類似Criteria時(shí)，則應(yīng)譯為“規(guī)格”。
68、Specimen樣品，試樣：
是指由完工產(chǎn)品或局部制程中，所得之取樣單位（Sample Unit），其局部或全部實(shí)際代表性的樣品，謂之Specimen。
69、Surface Resistivity表面電阻率；Volume Resistivity體積電阻率：
前者指物質(zhì)表面兩相鄰金屬面積間的電阻值；后者是指樣板上下兩金屬面間之體積電阻值。此等數(shù)值與測(cè)試環(huán)境條件十分有關(guān)，所做試驗(yàn)系按 IPC-TM-650中 2. 5. 17. 1.之圖形及規(guī)定進(jìn)行。其==有三個(gè)銅面電極點(diǎn)，分別是：1.承受迷走電流 （Stray Current）及維持正確測(cè)值的背面接地層 （即直徑D3之圓盤(pán)）；2.正面中央的圓盤(pán)（D1）；3.正面外圍的圓環(huán) （即D5與D4之間所形成的銅環(huán)）。按IPC-TM-650中2. 5. 17. 1.之做法，其測(cè)讀用的 Megaohm計(jì)當(dāng)?shù)竭_(dá)1012 Ω 時(shí)之誤差值仍須在±5％以內(nèi)。在圖中“高／低”兩待測(cè)點(diǎn)處施加直流電壓500 V、共實(shí)施 60＋5－6秒，可分別測(cè)到“表面電阻”（Surface Resistance） 與“體積電阻”（Volume Resistance） ，再代入下列公式即可分別求得兩種“電阻率”：1.表面電阻率 r‘＝R’ P／D4；R‘為測(cè)之表面電阻值； P為接地銅盤(pán)的周長(zhǎng)（cm） ；D4為環(huán)與盤(pán)兩者之間的空距寬度。2.體積電阻率 r＝RA／T；R為實(shí)測(cè)體積電阻值； T為板材平均厚度（cm） ；A為銅環(huán)之面積。按美軍板材規(guī)范MIL-S-13949H／4D（1993. 10）的規(guī)定，常用板材 FR-4表面電 阻率之下限為104MΩ，體積電阻率之下限為106MΩ。
70、Taper Pin Gauge錐狀孔規(guī)：
是一種逐漸變細(xì)的錐狀長(zhǎng)形針狀體，可插入通孔檢測(cè)多種孔徑，并有表面讀值呈現(xiàn)所測(cè)數(shù)據(jù)，堪稱甚為方便。
71、Taber Abraser泰伯磨試器：
是利用兩個(gè)無(wú)動(dòng)力的軟質(zhì)砂輪，將之壓附在被試磨的樣板表面上，而此樣板則另放置在慢速旋轉(zhuǎn)的圓形平臺(tái)上。當(dāng)開(kāi)動(dòng)馬達(dá)水平轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，該樣板的水平轉(zhuǎn)動(dòng)會(huì)驅(qū)使兩配重的砂輪做互為反動(dòng)的轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而對(duì)待試驗(yàn)的表面，在配重壓力下進(jìn)行磨試。例如在已印綠漆的 IPC-B-25 小型試驗(yàn)板上，于其板面中央鉆一套孔后，即可安裝在平臺(tái)上。另在兩直立磨輪上各加 1公斤的配重，然后開(kāi)動(dòng)平臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)若干圈，可使綠漆直接受到慢速的連續(xù)壓磨。磨完指定圈數(shù)后即取下試驗(yàn)板，并檢視環(huán)狀磨痕的綠漆層，是否已被磨透而見(jiàn)到銅質(zhì)線路。按IPC-S-840B的 3.5.1.1節(jié)中，對(duì)耐磨性（Abrasion Resistance）試驗(yàn)的規(guī)定， Class 3的綠漆須通過(guò) 50 圈的磨試而不可磨穿才算及格。又金屬表面處理業(yè)的鋁材硬陽(yáng)極處理層，或其它電鍍層也常要求耐磨性的試驗(yàn)。
72、Tolerance公差：
指產(chǎn)品需做檢測(cè)的各種尺度（Demension），在規(guī)格所能允許的正負(fù)變化總量謂之公差。
73、Touch Up觸修、簡(jiǎn)修：
指對(duì)板面一些不影響功能的小缺點(diǎn)，以簡(jiǎn)單的工具在徒手操作下即可進(jìn)行的小規(guī)模的檢修，稱之Touch Up；與Rework有些類似。
74、Twist板翹、板扭：
指板面從對(duì)角線兩側(cè)的角落發(fā)生變形翹起，謂之Twist。造成的原因很多，以具有玻纖布的膠片，其緯經(jīng)方向疊放錯(cuò)誤者居多（必須經(jīng)向?qū)?jīng)向，或緯向?qū)曄虿判校０迓N檢測(cè)的方法，首先是應(yīng)讓板子四角中的三點(diǎn)落地貼緊平臺(tái)，再量測(cè)所翹起一角的高度。或另用直尺跟接在對(duì)角上，再以“孔規(guī)”去測(cè)直尺跨板面的浮空距離。
75、Universal Tester泛用型電測(cè)機(jī)：
指具有極多測(cè)點(diǎn)（常達(dá)萬(wàn)余點(diǎn)）的標(biāo)準(zhǔn)“格距”（Grid）固定大型針盤(pán)，并可分別按不同料號(hào)而制作活動(dòng)式探針的針盤(pán)，將兩者對(duì)準(zhǔn)套接后所進(jìn)行的實(shí)測(cè)的機(jī)種而言。量產(chǎn)時(shí)只要改換活動(dòng)針盤(pán)，就可對(duì)不同料號(hào)量產(chǎn)測(cè)試。且此種大型機(jī)尚可使用高電壓（如 250 V）以對(duì)完工電路板進(jìn)行 Open/Short 的電測(cè)。該等高價(jià)“自動(dòng)化測(cè)試機(jī)” （ATE Automatic Testing Equipemtn），謂之泛用型或廣用型電測(cè)機(jī)。相對(duì)的另有較簡(jiǎn)單之“專用型”測(cè)試機(jī)（Dedicated Tester）。
76、Vision Systems視覺(jué)系統(tǒng)：
利用光學(xué)檢驗(yàn)的技術(shù)，對(duì)板面導(dǎo)體線路與基材在“灰度” （Gray-Scale）上的不同反應(yīng)，進(jìn)行對(duì)比檢查的一種方法，亦即所謂的“自動(dòng)光學(xué)檢查”（Automatic Optical Inspection；AOI）的技術(shù)，可對(duì)內(nèi)層板在壓合前進(jìn)行檢查。
77、Visual Examination（Inspection）目視檢查：
以未做視力校正的肉眼，對(duì)產(chǎn)品之外觀進(jìn)行目視檢查，或以規(guī)定倍率的放大鏡（3X ~ 10X）進(jìn)行外觀檢查，二者都稱為“目視檢查”。
78、Waive暫準(zhǔn)過(guò)關(guān)，暫不檢驗(yàn)：
產(chǎn)品出現(xiàn)較次要的瑕疵時(shí)，由于情勢(shì)需要只好暫時(shí)過(guò)關(guān)允收，或主觀認(rèn)可品質(zhì)，而暫時(shí)放棄檢驗(yàn)，美式行話稱為Waive。
79、Warp，Warpage板彎：
這是PCB業(yè)早期所用的名詞，是指電路在平坦度 （Flatness）上發(fā)生問(wèn)題，即板長(zhǎng)方向發(fā)生彎曲變形之謂，現(xiàn)行的術(shù)語(yǔ)則稱為Bow。
80、Weave Eposure織紋顯露；Weave Texture織紋隱現(xiàn)：
此二詞在IPC-A 600D的第 2.5節(jié)中有較正確的說(shuō)明。所謂“織紋顯露”是指板材表面的樹(shù)脂層（Butter Coat）已經(jīng)破損流失，致使板內(nèi)的?？棽计芈冻鰜?lái)。而后者的“織紋隱現(xiàn)”則是指板面的樹(shù)脂太薄，呈現(xiàn)半透明狀態(tài)，致使內(nèi)部織紋情形也隱約可看見(jiàn)。
81、White Spot白點(diǎn)：
特指玻纖布與鐵氟龍（Teflon即PTFE樹(shù)脂）所制成高頻用途的板材，在其完成PCB制程的板面上，?？赏敢暱吹?ldquo;次外層”上所顯現(xiàn)的織點(diǎn)（Knuckles），外觀上常有白色或透明狀的變色異物出現(xiàn)，與FR-4板材中所常出現(xiàn)的 Measling或Crazing稍有不同。此“白點(diǎn)”之術(shù)語(yǔ)，是在IPC-T-50E（1992.7）上才出現(xiàn)的新術(shù)語(yǔ)較舊的各種資料上均未曾見(jiàn)。
