電子產(chǎn)品的應(yīng)用隨著可見,那么電子產(chǎn)品的靜電防護(hù)成為了電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中必不可少的工作。在有外部接口的電子產(chǎn)品中,幾乎都會(huì)有ESD防護(hù)器件。
高速電路設(shè)計(jì)的系統(tǒng)工程師或者硬件工程師必須仔細(xì)選擇在設(shè)計(jì)中所需要的所有元器件,選擇合適的ESD保護(hù)元件就具有比以前更大的挑戰(zhàn)性,因?yàn)镋SD器件在一些高速電路接口上已經(jīng)變得不再是一個(gè)簡單的ESD器件,還包含了雜散的寄生參數(shù),以及安裝到PCB板上時(shí)的寄生電感等參數(shù)。如下圖左是一個(gè)典型的ESD保護(hù)器件,右圖是安裝在PCB板上的一個(gè)簡化的等效電路圖:
顯然電路變得更加的復(fù)雜啦。這里還沒有計(jì)算ESD器件的IO電容。下圖是某TVS管的datasheet中標(biāo)識(shí)的IO寄生電容:
下面以大家都非常熟知的USB3.0為例子,在ADS中搭建一個(gè)仿真的原理圖(使用ADS的example即可):
仿真獲得的眼圖如下圖【】所示:
在原始的原理圖中添加一個(gè)防ESD的TVS管的S參數(shù)之后,原理圖如下圖所示:
其它條件都保持與前面一樣,仿真獲得的眼圖如下圖【】所示:
從眼圖上看,兩者有明顯的差別,再觀察其測量項(xiàng),顯然,帶ESD器件TVS管的模型時(shí),其結(jié)果更差。在此文中雖然結(jié)果還是符合USB3.0的規(guī)范要求,但是已經(jīng)變得很差,如果在沒有考慮TSV管的影響下結(jié)果就很差,那么在加上TVS管之后,很有可能就會(huì)導(dǎo)致結(jié)果不滿足設(shè)計(jì)的要求。
下圖是一個(gè)TVS管器件的S參數(shù):
顯然,當(dāng)信號(hào)速率比較低時(shí),其損耗比較小,但是隨著速率的提升,顯然損耗會(huì)變大很多。雖然目前很多公司都無法提供ESD器件的S參數(shù),但是對于高速電路而言,這確實(shí)是需要考慮的影響因子之一。所以在選擇器件時(shí),不僅僅要看器件的防護(hù)等級(jí),還需要注意其寄生效應(yīng)。