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形式驗(yàn)證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)?

發(fā)布時(shí)間:2024-08-23 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】隨著集成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大,從設(shè)計(jì)到流片(Tape-out)的全流程中,驗(yàn)證環(huán)節(jié)的核心地位日益凸顯。有效的驗(yàn)證不僅是設(shè)計(jì)完美的基石,更是確保電路在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定運(yùn)行的保障。尤為關(guān)鍵的是,邏輯或功能錯(cuò)誤是導(dǎo)致流片失敗的首要原因,占比高達(dá)50%。功能驗(yàn)證正是解決這一難題的利器,它助力工程師精準(zhǔn)識(shí)別邏輯設(shè)計(jì)漏洞、性能不達(dá)標(biāo)問(wèn)題以及設(shè)計(jì)代碼中的功能缺陷,從而最大限度地規(guī)避流片風(fēng)險(xiǎn)。


引言


隨著集成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大,從設(shè)計(jì)到流片(Tape-out)的全流程中,驗(yàn)證環(huán)節(jié)的核心地位日益凸顯。有效的驗(yàn)證不僅是設(shè)計(jì)完美的基石,更是確保電路在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定運(yùn)行的保障。尤為關(guān)鍵的是,邏輯或功能錯(cuò)誤是導(dǎo)致流片失敗的首要原因,占比高達(dá)50%。功能驗(yàn)證正是解決這一難題的利器,它助力工程師精準(zhǔn)識(shí)別邏輯設(shè)計(jì)漏洞、性能不達(dá)標(biāo)問(wèn)題以及設(shè)計(jì)代碼中的功能缺陷,從而最大限度地規(guī)避流片風(fēng)險(xiǎn)。


針對(duì)超大規(guī)模集成電路(VLSI)設(shè)計(jì),目前功能驗(yàn)證有兩種方法:動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證和形式驗(yàn)證(Formal Verification)。形式驗(yàn)證采用數(shù)學(xué)方法來(lái)比較原設(shè)計(jì)和修改設(shè)計(jì)之間的邏輯功能的異同,而動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證是對(duì)兩設(shè)計(jì)施加相同的激勵(lì)后,觀測(cè)電路對(duì)激勵(lì)的反應(yīng)異同。


面對(duì)大型設(shè)計(jì),傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證方法在覆蓋率和效率上面臨挑戰(zhàn)。為了達(dá)到100%的覆蓋率,動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證所需要的矢量就會(huì)越多,這時(shí)形式驗(yàn)證在這方面就有優(yōu)勢(shì)了,成為現(xiàn)代IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證流程中的關(guān)鍵一環(huán)。本文就以 “芯天成EsseFCEC”工具為例,來(lái)介紹形式驗(yàn)證的流程和基本概念。


什么是形式驗(yàn)證


形式驗(yàn)證是一種基于嚴(yán)格數(shù)學(xué)推理的設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù),它摒棄了物理測(cè)試與模擬的依賴(lài),專(zhuān)注于通過(guò)靜態(tài)、全面的邏輯分析來(lái)確保設(shè)計(jì)的正確性。此方法顯著降低了對(duì)龐大測(cè)試集的需求,并力求實(shí)現(xiàn)接近完美的驗(yàn)證覆蓋率。


形式驗(yàn)證作為EDA、數(shù)學(xué)及編程語(yǔ)言等多學(xué)科交叉的產(chǎn)物,自上世紀(jì)90年代起便嶄露頭角,最初應(yīng)用于RTL代碼與門(mén)級(jí)網(wǎng)表的LEC(邏輯等價(jià)性檢查),隨后逐步擴(kuò)展到各類(lèi)EDA工具,以應(yīng)對(duì)不同驗(yàn)證場(chǎng)景的需求。


目前,形式驗(yàn)證主要分為兩個(gè)技術(shù)方向:等價(jià)性檢查和屬性檢查。其中。等價(jià)性檢查,作為核心驗(yàn)證手段,通過(guò)對(duì)比功能驗(yàn)證后的HDL設(shè)計(jì)與綜合后的網(wǎng)表功能,確保兩者在功能層面上的完全一致,從而保證門(mén)級(jí)電路與寄存器傳輸級(jí)(Register Transfer Level, RTL)模型之間的一致性。這一方法有效防范了綜合工具潛在的缺陷及人為誤操作,對(duì)于提升設(shè)計(jì)質(zhì)量至關(guān)重要。


形式驗(yàn)證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)?


形式驗(yàn)證的實(shí)施涉及多個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié):


屬性定義(Properties):精確闡述設(shè)計(jì)需遵循的特性與規(guī)范,涵蓋時(shí)序邏輯、狀態(tài)轉(zhuǎn)換規(guī)則及各項(xiàng)約束條件。

規(guī)約語(yǔ)言:采用如SystemVerilog Assertions(SVA)、Property Specification Language(PSL)等形式化規(guī)約語(yǔ)言,將屬性與約束轉(zhuǎn)化為可驗(yàn)證的表達(dá)式。

定理證明器(Theorem Provers):依托形式化邏輯與推理機(jī)制,自動(dòng)驗(yàn)證屬性是否成立,為設(shè)計(jì)邏輯的正確性提供堅(jiān)實(shí)保障。

模型檢查器(Model Checkers):全面探索系統(tǒng)狀態(tài)空間,尋找可能違反預(yù)定性質(zhì)的執(zhí)行路徑,確保設(shè)計(jì)在所有可能情況下均能滿足既定要求。


形式驗(yàn)證的基本流程是一個(gè)連貫且系統(tǒng)化的過(guò)程。這一過(guò)程從明確驗(yàn)證目標(biāo)開(kāi)始,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)首先需要界定哪些部分或功能需要接受形式驗(yàn)證的嚴(yán)格審查。接著,采用形式規(guī)約語(yǔ)言(如SystemVerilog Assertions、PSL)定義屬性和規(guī)約,作為驗(yàn)證基礎(chǔ)。進(jìn)入驗(yàn)證環(huán)境配置階段,團(tuán)隊(duì)選擇適合的驗(yàn)證工具(定理證明器、模型檢查器),并依據(jù)設(shè)計(jì)特性和需求進(jìn)行優(yōu)化配置,以確保驗(yàn)證效率與準(zhǔn)確性。


驗(yàn)證執(zhí)行為核心,定理證明器通過(guò)數(shù)學(xué)推理驗(yàn)證屬性與規(guī)約的正確性,模型檢查器則全面探索系統(tǒng)狀態(tài)空間,檢查違規(guī)執(zhí)行序列。驗(yàn)證結(jié)束后,團(tuán)隊(duì)分析驗(yàn)證結(jié)果,識(shí)別并修正設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤或不一致。此過(guò)程可能多次迭代,直至設(shè)計(jì)完全符合驗(yàn)證要求。


形式驗(yàn)證工具的挑戰(zhàn)


形式驗(yàn)證的流程雖然復(fù)雜且嚴(yán)謹(jǐn),但它為設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)提供了一種高效且可靠的驗(yàn)證方法。通過(guò)遵循這一流程,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)可以顯著降低設(shè)計(jì)錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn),提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。然而,隨著現(xiàn)代芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和規(guī)模不斷增長(zhǎng),形式驗(yàn)證在實(shí)際應(yīng)用中面臨多重挑戰(zhàn):


復(fù)雜性增加,性能不足:現(xiàn)代芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和規(guī)模不斷增長(zhǎng),對(duì)驗(yàn)證工具的性能提出了更高要求。現(xiàn)有工具在處理大規(guī)模設(shè)計(jì)時(shí)可能面臨性能瓶頸,導(dǎo)致驗(yàn)證過(guò)程耗時(shí)過(guò)長(zhǎng)。

多樣化的設(shè)計(jì)環(huán)境:不同的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)可能使用不同的設(shè)計(jì)語(yǔ)言和平臺(tái),這要求驗(yàn)證工具具備廣泛的兼容性和集成能力。然而,多樣化的設(shè)計(jì)環(huán)境可能導(dǎo)致兼容性和集成性方面的挑戰(zhàn)。

可擴(kuò)展性需求增加:隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和新的設(shè)計(jì)需求的出現(xiàn),驗(yàn)證工具需要具備良好的可擴(kuò)展性,以快速適應(yīng)新的設(shè)計(jì)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。這對(duì)工具的開(kāi)發(fā)和維護(hù)提出了更高要求。

復(fù)雜的設(shè)計(jì)錯(cuò)誤檢測(cè):在復(fù)雜的設(shè)計(jì)中,子系統(tǒng)之間的交互和邏輯路徑可能非常復(fù)雜,驗(yàn)證工具需要能夠準(zhǔn)確地檢測(cè)這些復(fù)雜場(chǎng)景中的錯(cuò)誤和不一致之處。這要求工具具備強(qiáng)大的錯(cuò)誤檢測(cè)能力和智能化的分析手段。


芯天成EsseFormal形式驗(yàn)證軟件


芯天成EsseFormal形式驗(yàn)證軟件是一款功能全面的驗(yàn)證解決方案,專(zhuān)為數(shù)字芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域的復(fù)雜驗(yàn)證挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)。其核心包含五種工具套件,每一種都針對(duì)特定的驗(yàn)證需求提供高效、精準(zhǔn)的支持。


EsseFECT(形式化等價(jià)性驗(yàn)證):該工具專(zhuān)注于驗(yàn)證C-to-RTL的轉(zhuǎn)換過(guò)程中,設(shè)計(jì)的等價(jià)性是否得以保持。這確保了設(shè)計(jì)在不同抽象層次間的轉(zhuǎn)換無(wú)誤,是確保設(shè)計(jì)一致性的重要環(huán)節(jié)。


EsseFCEC(組合邏輯等價(jià)性驗(yàn)證):作為EsseFormal的明星產(chǎn)品,EsseFCEC專(zhuān)門(mén)用于驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)中各電路模塊之間的組合邏輯等價(jià)性。它不僅支持RTL到Netlist的轉(zhuǎn)換驗(yàn)證,還涵蓋版本間差異的比較,確保設(shè)計(jì)更改不會(huì)引入錯(cuò)誤。其強(qiáng)大的綜合優(yōu)化技術(shù)支持(如Clock-gating、multibit register banking和FSM recoding)顯著提升了驗(yàn)證效率和性能。此外,對(duì)DesignWare元件庫(kù)的支持以及大位寬datapath驗(yàn)證的能力,進(jìn)一步拓寬了EsseFCEC的應(yīng)用范圍。


形式驗(yàn)證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)?


EsseFPV(模型檢查):通過(guò)遍歷設(shè)計(jì)的狀態(tài)空間,EsseFPV能夠發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中可能存在的違反預(yù)定義屬性的行為,是確保設(shè)計(jì)行為符合預(yù)期的關(guān)鍵工具。


EsseCC與EsseUNR(實(shí)用驗(yàn)證Apps):這兩個(gè)工具提供了額外的實(shí)用功能。EsseCC是一個(gè)高效的連接性檢查驗(yàn)證工具,為用戶(hù)提供快速的錯(cuò)誤檢測(cè)以及信號(hào)到信號(hào)的預(yù)期設(shè)計(jì)行為驗(yàn)證。EsseCC以RTL電路和連接規(guī)范作為輸入,快速檢查設(shè)計(jì)是否符合連接規(guī)范。而EsseUNR是一款高效的覆蓋不可達(dá)性檢查工具。使用傳統(tǒng)的驗(yàn)證方式,在驗(yàn)證后期,通過(guò)編寫(xiě)測(cè)試用例提升驗(yàn)證覆蓋率的難度陡然上升。該工具具有更高效、更準(zhǔn)確、更易上手的優(yōu)點(diǎn),可對(duì)未覆蓋的代碼進(jìn)行全面的不可達(dá)性檢查。


形式驗(yàn)證如何加速超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)?


芯天成EsseFormal的定制化和集成化特點(diǎn),使得它能夠精準(zhǔn)匹配不同用戶(hù)的特定需求,從而顯著降低驗(yàn)證時(shí)間,提高驗(yàn)證的完整性和準(zhǔn)確性。其簡(jiǎn)潔易用的圖形用戶(hù)界面,讓驗(yàn)證過(guò)程更加直觀和高效,即使是初次接觸形式驗(yàn)證的用戶(hù)也能快速上手。


驗(yàn)證發(fā)展方向:覆蓋率的提升


在當(dāng)前的硬件設(shè)計(jì)領(lǐng)域中,隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜度的急劇增加,驗(yàn)證已成為確保芯片功能和性能可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。驗(yàn)證技術(shù)的發(fā)展方向,尤其是覆蓋率的提升,成為了行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。思爾芯的軟件仿真芯神馳PegaSim通過(guò)其創(chuàng)新性的解決方案,與國(guó)微芯的形式驗(yàn)證工具進(jìn)行無(wú)縫集成,為提升驗(yàn)證的全面性和效率樹(shù)立了新的標(biāo)桿。


覆蓋率是衡量驗(yàn)證完整性的重要指標(biāo),它反映了驗(yàn)證過(guò)程中測(cè)試向量對(duì)設(shè)計(jì)代碼覆蓋的廣度和深度。然而,在復(fù)雜的硬件設(shè)計(jì)中,往往存在難以觸及的代碼區(qū)域,即所謂的“不可達(dá)部分”。這些區(qū)域若未經(jīng)充分驗(yàn)證,就可能成為潛在的設(shè)計(jì)漏洞。因此,提升覆蓋率,特別是針對(duì)不可達(dá)部分的驗(yàn)證,對(duì)于確保設(shè)計(jì)質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。


思爾芯的軟件仿真PegaSim通過(guò)與國(guó)微芯的形式驗(yàn)證工具相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了對(duì)覆蓋率中不可達(dá)部分進(jìn)行深入驗(yàn)證。這一解決方案不僅增強(qiáng)了軟件仿真過(guò)程中的代碼覆蓋率,還通過(guò)增加激勵(lì)或優(yōu)化代碼的方式,進(jìn)一步提高了驗(yàn)證的全面性和準(zhǔn)確性。同時(shí),PegaSim還支持對(duì)指定模塊或特定代碼行進(jìn)行精細(xì)化的覆蓋不可達(dá)性檢查,幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)精準(zhǔn)定位并消除無(wú)意義或冗余的代碼,從而優(yōu)化內(nèi)在邏輯,提升整體設(shè)計(jì)質(zhì)量。


面對(duì)日益復(fù)雜的硬件設(shè)計(jì),單一的驗(yàn)證方法已難以滿足全面驗(yàn)證的需求。因此,驗(yàn)證技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)是多種驗(yàn)證方法的融合與互補(bǔ)。軟件仿真、硬件仿真、原型驗(yàn)證、以及形式驗(yàn)證等方法各有千秋,它們?cè)诓煌尿?yàn)證階段和側(cè)重點(diǎn)上發(fā)揮著不可替代的作用。通過(guò)綜合運(yùn)用這些驗(yàn)證方法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)硬件設(shè)計(jì)的全方位、多角度檢驗(yàn),從而確保設(shè)計(jì)的正確性和可靠性。


關(guān)于思爾芯 S2C


思爾芯(S2C)自 2004 年設(shè)立上??偛恳詠?lái)始終專(zhuān)注于集成電路 EDA 領(lǐng)域。作為國(guó)內(nèi)首家數(shù)字 EDA 供應(yīng)商,公司業(yè)務(wù)已覆蓋架構(gòu)設(shè)計(jì)、軟件仿真、硬件仿真、原型驗(yàn)證、數(shù)字調(diào)試、EDA 云等工具及服務(wù)。已與超過(guò) 600 家國(guó)內(nèi)外企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系,服務(wù)于人工智能、高性能計(jì)算、圖像處理、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、信號(hào)處理等數(shù)字電路設(shè)計(jì)功能的實(shí)現(xiàn),廣泛應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算、5G 通信、智慧醫(yī)療、汽車(chē)電子等終端領(lǐng)域。


公司總部位于上海,并建立了全球化的技術(shù)研發(fā)與市場(chǎng)服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在北京、深圳、西安、香港、東京、首爾及圣何塞等地均設(shè)有分支機(jī)構(gòu)或辦事處。


思爾芯在 EDA 領(lǐng)域的技術(shù)實(shí)力受到了業(yè)界的廣泛認(rèn)可,通過(guò)多年耕耘,已在數(shù)字前端 EDA 領(lǐng)域構(gòu)筑了技術(shù)與市場(chǎng)的雙優(yōu)勢(shì)地位。并參與了我國(guó) EDA 團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)的制定,承擔(dān)了多項(xiàng)國(guó)家及地方重大科研項(xiàng)目,獲國(guó)家級(jí)專(zhuān)精特新“小巨人”企業(yè)、國(guó)家工業(yè)軟件優(yōu)秀產(chǎn)品、上海市級(jí)企業(yè)技術(shù)中心等多項(xiàng)榮譽(yù)資質(zhì)。

(來(lái)源:思爾芯S2C


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