【導(dǎo)讀】在用于汽車 SoC 的納米技術(shù)中，硅上的大多數(shù)缺陷都是由于時(shí)序問題造成的。因此，汽車設(shè)計(jì)中的全速覆蓋要求非常嚴(yán)格。為了滿足這些要求，工程師們付出了很多努力來獲得更高的實(shí)速覆蓋率。主要挑戰(zhàn)是以盡可能低的成本以高產(chǎn)量獲得所需質(zhì)量的硅。在本文中，我們討論了與實(shí)時(shí)測試中的過度測試和測試不足相關(guān)的問題，這些問題可能會導(dǎo)致良率問題。我們將提供一些有助于克服這些問題的建議。
在用于汽車 SoC 的納米技術(shù)中，硅上的大多數(shù)缺陷都是由于時(shí)序問題造成的。因此，汽車設(shè)計(jì)中的全速覆蓋要求非常嚴(yán)格。為了滿足這些要求，工程師們付出了很多努力來獲得更高的實(shí)速覆蓋率。主要挑戰(zhàn)是以盡可能低的成本以高產(chǎn)量獲得所需質(zhì)量的硅。在本文中，我們討論了與實(shí)時(shí)測試中的過度測試和測試不足相關(guān)的問題，這些問題可能會導(dǎo)致良率問題。我們將提供一些有助于克服這些問題的建議。
全速測試的主要目的是檢測硅在其工作頻率下可能發(fā)生的任何時(shí)序故障。要測試的重要部分是生成可控時(shí)鐘脈沖的邏輯，該時(shí)鐘脈沖的頻率與功能操作所需的頻率相同。提供受控時(shí)鐘脈沖的方法是通過輸入焊盤從測試器 (ATE) 提供，因?yàn)檫@將降低復(fù)雜性并限度地減少需要在設(shè)計(jì)中構(gòu)建的額外測試邏輯。
然而，這種方案會有頻率限制，因?yàn)楹副P通常不能支持非常高頻率的時(shí)鐘。因此，片上鎖相環(huán) (PLL) 和振蕩器用于提供時(shí)鐘脈沖。然而，不能直接使用這些的自由運(yùn)行時(shí)鐘，因?yàn)槭紫任覀儽仨氁缘皖l（移位頻率）通過掃描鏈移位矢量，以功能頻率捕獲，然后以移位頻率清除數(shù)據(jù)。我們需要可控脈沖，同時(shí)以功能頻率捕獲，這可以通過使用斬波邏輯來實(shí)現(xiàn)。圖 1顯示了具有全速時(shí)鐘的典型時(shí)鐘架構(gòu)。
圖 1： 具有全速時(shí)鐘的典型時(shí)鐘架構(gòu)
對于任何 SoC，STA（靜態(tài)時(shí)序分析）簽核對于驗(yàn)證時(shí)序性能是不可或缺的。時(shí)序簽核確保硅將以所需的功能頻率運(yùn)行。同樣的邏輯也適用于全速測試。必須對全速模式和功能模式一起完成 STA 簽核，因?yàn)闀r(shí)鐘路徑在全速模式下可能不同，并且添加的測試控制邏輯也需要定時(shí)。在正常功能模式下不需要斬波邏輯，因此我們還需要滿足斬波邏輯的時(shí)序要求。
理想情況下，如果時(shí)鐘的變化是在公共路徑中完成的，那么在全速模式下關(guān)閉時(shí)序應(yīng)該不是問題，例如在時(shí)鐘路徑的開始處，以便啟動和捕獲觸發(fā)器的變化是共同的，因此不會影響設(shè)計(jì)的設(shè)置和保持時(shí)序。測試控制邏輯一般工作在低頻或靜態(tài)，因此不難滿足時(shí)序要求。
典型的 SoC 時(shí)鐘方案
然而，現(xiàn)代 Soc 設(shè)計(jì)并不那么簡單。高性能和低泄漏要求導(dǎo)致設(shè)計(jì)在單個(gè) SoC 中具有各種時(shí)鐘源，例如 PLL、振蕩器、時(shí)鐘分頻器等。根據(jù)架構(gòu)，可能有許多 IO 接口在外部時(shí)鐘上運(yùn)行幾個(gè) MHz，例如 SPI、JTAG、I2C 等。因此，SoC 的不同部分可以以不同的頻率運(yùn)行。
這就是事情變得復(fù)雜的地方。前面討論的用于全速時(shí)鐘的時(shí)鐘解決方案（斬波邏輯）對于以不同頻率運(yùn)行的復(fù)雜芯片來說是不夠的。在全速測試中，這些復(fù)雜性會引發(fā)稱為測試不足和測試過度的問題，從而導(dǎo)致需要進(jìn)行測試。
與功能模式下的運(yùn)行頻率相比，在全速模式下以更高的頻率測試邏輯時(shí)會發(fā)生過度測試。參考圖 2，如果在全速模式下向看門狗和 RTC 等任何低頻模塊提供 pll_clock，就會發(fā)生過度測試。采用這種方法的一個(gè)關(guān)鍵原因是測試時(shí)鐘路徑的簡單性，因?yàn)檫@種方法只需要對功能邏輯進(jìn)行的更改。在我們的示例中，我們只需要通過掃描時(shí)鐘繞過所有分頻時(shí)鐘/RC osc 時(shí)鐘/外部時(shí)鐘，而掃描時(shí)鐘又將由 pll 時(shí)鐘控制。
圖 2： 存儲器和閃存在分頻 PLL 時(shí)鐘上運(yùn)行，而平臺在實(shí)際 pll_clock 下工作。內(nèi)部 RC 振蕩器為 RTC（實(shí)時(shí)計(jì)數(shù)器）和看門狗定時(shí)器等塊提供時(shí)鐘，這些塊需要非常慢的時(shí)鐘頻率。像顯示大師這樣的積木既有IPS接口又有攝像頭接口。IPS 接口通常以系統(tǒng)頻率工作，而攝像頭邏輯以外部提供的較慢頻率時(shí)鐘工作。SPI 和 JTAG 等 IO 接口在幾 MHz 下工作。因此，SOC 的整體配置需要多個(gè)模塊在多個(gè)頻率下工作。
當(dāng)在全速模式下以低于預(yù)期操作頻率的頻率測試任何邏輯時(shí)，就會發(fā)生測試不足。這種情況通常存在于無法提供與功能模式相同頻率的測試時(shí)鐘時(shí)，但同時(shí)由于較大的數(shù)據(jù)路徑延遲或技術(shù)限制而無法以高頻率關(guān)閉設(shè)計(jì)。在這種情況下，我們被迫提供較低頻率的時(shí)鐘。
因此，有必要以與功能頻率完全相同的頻率測試硅的缺陷。任何偏差都會導(dǎo)致過度測試或測試不足的問題：
? 當(dāng)功能邏輯旨在以較低的頻率工作時(shí)，關(guān)閉較高頻率的設(shè)計(jì)以進(jìn)行全速測試將影響整體設(shè)計(jì)的面積和功率。在時(shí)序關(guān)鍵設(shè)計(jì)的情況下，實(shí)時(shí)測試工具將使用高驅(qū)動強(qiáng)度單元，甚至可能需要低 Vt 單元來滿足這些頻率目標(biāo)。
? 即使設(shè)計(jì)的時(shí)序以更高的頻率收斂，以功耗和面積為代價(jià)，我們在良率計(jì)算中也可能會不必要地悲觀。在全速測試期間可能會出現(xiàn)不切實(shí)際的良率下降。例如，在具有兩個(gè)時(shí)鐘域（domain1 @ 120MHz 和 domain2 @ 80MHz）的設(shè)計(jì)中，我們將整個(gè)設(shè)計(jì)的時(shí)序關(guān)閉在 120MHz 平坦處以簡化全速模式下的時(shí)鐘架構(gòu)。這兩個(gè)域的所有 ATPG 模式生成都將在 120MHz 時(shí)發(fā)生。由于工藝可變性，在硅上，domain1 在 120MHz 下工作正常，但 domain2 僅在 110MHz 下工作，因此所有管芯都將被視為有缺陷的部件。盡管該芯片足以滿足功能要求，但基于全速模式故障，我們會將芯片宣布為故障芯片，這會降低我們的產(chǎn)量。
? 在測試不足的情況下，全速模式不能保證芯片實(shí)際工作在預(yù)期頻率。由于壞芯片可以通過全速測試，所以原先的全速測試過濾掉壞芯片的目的就落空了。在這種情況下，我們在收益率計(jì)算中會過于樂觀。
了解了缺點(diǎn)后，我們將重點(diǎn)關(guān)注在任何 SoC 中存在過度測試和測試不足的原因：
時(shí)鐘架構(gòu)的簡單性
鑒于功能模式下的時(shí)鐘源如此之多，簡單的方法是在全速模式下提供少量可控測試時(shí)鐘。
圖 3： 簡單和簡單的測試時(shí)鐘解決方案是將 PLL 時(shí)鐘與外部時(shí)鐘復(fù)用，即使對于全速模式也是如此，這是一種過度測試的情況。
讓我們以 DSPI 模塊為例。該 IP 在 2 個(gè)時(shí)鐘上工作，一個(gè) 15 MHz 的外部時(shí)鐘和一個(gè)用于內(nèi)部邏輯的 120MHz 功能 PLL 時(shí)鐘。如圖3所示，簡單和簡單的測試時(shí)鐘解決方案是將 PLL 時(shí)鐘與外部時(shí)鐘復(fù)用，即使對于全速模式也是如此，這是一種過度測試的情況。
納米設(shè)計(jì)中的分頻器
對于時(shí)鐘分頻器，原始源時(shí)鐘用于所有測試模式，并與分頻時(shí)鐘復(fù)用，如下圖 4所示。
圖 4： 原始源時(shí)鐘用于所有測試模式，并與分頻時(shí)鐘復(fù)用。
這是設(shè)計(jì)中的常見場景，我們有很多分頻器，但我們不能在全速測試中使用它們，因?yàn)檫@些分頻器在測試期間不可控（相位確定）。因此，簡化全速測試的簡單方法是在測試模式下提供一個(gè)不分頻的時(shí)鐘，這會導(dǎo)致過度測試。
多周期路徑等時(shí)序異常
在設(shè)計(jì)中，當(dāng)信號傳播在功能操作期間需要多于單周期時(shí)鐘時(shí)，會使用多周期路徑、偽路徑、分析等形式的各種時(shí)序異常。這些異常在at-中有效速度模式，因此也應(yīng)以 SDC（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)約束文件）的形式適當(dāng)?shù)匾浦驳饺倌Ｊ?。然而，?dāng)前的 ATPG 工具在理解其中一些約束方面存在局限性，尤其是多循環(huán)路徑。當(dāng)通過 SDC 文件進(jìn)行解析時(shí)，它會忽略多周期路徑并且不會為此創(chuàng)建任何模式。例如，如果我們有一個(gè)從一個(gè)寄存器到另一個(gè)寄存器的 2 的多周期，它將簡單地屏蔽任何檢查這兩個(gè)寄存器之間捕獲的模式。
所以這意味著所有多周期路徑都沒有在全速測試中進(jìn)行測試，導(dǎo)致測試不足。另一方面，如果這些異常未成為 SDC 文件的一部分，則時(shí)序檢查將在單個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)發(fā)生，而從功能上講，該路徑將在兩個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)工作，這是過度測試的典型情況?？偟膩碚f，這是一個(gè)大問題，因?yàn)橥ǔＮ覀冊谌魏螐?fù)雜的設(shè)計(jì)中都會遇到很多多周期異常，如果我們采用傳統(tǒng)方法，這可能會導(dǎo)致過度測試或測試不足。
實(shí)時(shí)測試
到目前為止，我們已經(jīng)看到過度測試和測試不足都是不可取的，因此我們需要一種方法來確保在不影響設(shè)計(jì) QOR 的情況下實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測試的實(shí)際好處。這個(gè)想法是，由于實(shí)時(shí)測試，設(shè)計(jì)上不應(yīng)有任何顯著的面積/功率開銷，但同時(shí)我們應(yīng)該確保在預(yù)期的功能頻率下檢查實(shí)時(shí)測試設(shè)計(jì)，而不是高于或低于該頻率。
這里列出了一些指南/技術(shù)，以確保以正確的方式完成全速測試：
? 在 func 模式下識別設(shè)計(jì)中的不同頻域。這是重要的一步，因?yàn)槟皆绱_定頻域，就越能了解全速測試要求。對時(shí)鐘架構(gòu)的全面分析有助于定義的全速時(shí)鐘。例如，在開始一個(gè)項(xiàng)目時(shí)，通常不會過多強(qiáng)調(diào)外部 IO 接口頻率目標(biāo)，這會在以后影響為這些接口定義全速時(shí)鐘策略。
? 定義全速模式時(shí)序約束以及功能模式約束生成。全速模式下的任何時(shí)序關(guān)鍵路徑都可以在設(shè)計(jì)周期開始時(shí)解決。在早期階段進(jìn)行更改總是比較容易。
? 關(guān)鍵解決方案之一是識別測試不足和測試過度的情況，因?yàn)楹芏鄷r(shí)候這些問題會在終 STA 運(yùn)行期間突然出現(xiàn)，甚至在滿足時(shí)序時(shí)甚至不會被注意到。使用某種腳本，可以比較功能模式和全速模式下所有寄存器的頻率。將寄存器分為三類：在兩種模式下具有相同頻率的觸發(fā)器——可以使用；觸發(fā)器在全速模式下的頻率低于功能模式下的頻率——測試中的情況；觸發(fā)器在全速模式下的頻率高于功能模式下的頻率——過度測試的情況。
一旦確定了這些情況，就應(yīng)該進(jìn)行徹底的分析，并探索所有架構(gòu)的可能性，以提供與功能模式下頻率完全相同的時(shí)鐘。
為了解決時(shí)序異常，解決方案在于通過以較低頻率進(jìn)行測試，將多周期路徑轉(zhuǎn)換為單周期路徑。這個(gè)概念很簡單。假設(shè)一個(gè)設(shè)計(jì)工作在 200MHz，并且有幾個(gè) 2 的多周期路徑。用 2 的多周期在 200MHz 時(shí)對這些路徑進(jìn)行定時(shí)相當(dāng)于在單個(gè)周期中以 100MHz 測試這些路徑。在全速測試中，分兩次測試邏輯。在遍中，將提供 200MHz 的捕獲時(shí)鐘來測試所有單周期路徑，并將屏蔽所有多周期路徑。在第二遍中，將提供 100MHz 的捕獲時(shí)鐘以僅測試所有多周期路徑。相同的概念可以應(yīng)用于更高的多周期。
分多次進(jìn)行at-speed testing也會在很大程度上解決over-testing/under-testing的問題。正如我們上面所討論的，有時(shí)不可能同時(shí)為所有域提供的頻率時(shí)鐘，但我們可以通過在每次傳遞中以多個(gè)頻率配置捕獲時(shí)鐘來做到這一點(diǎn)。通常，在我們將 pll 用作系統(tǒng)時(shí)鐘的設(shè)計(jì)中，我們可以靈活地將 pll 配置為某些離散頻率。
可以使用相同的多次測試方法來解決與分頻器相關(guān)的過度測試問題。不同之處在于，在多周期路徑的情況下，觸發(fā)器可以被屏蔽，但在分頻器的情況下，我們需要分頻時(shí)鐘的可控性，以便時(shí)鐘可以在掃描模式下被門控。
圖 5： 當(dāng)系統(tǒng)時(shí)鐘為 200Mhz 時(shí)，在通道 1 的全速測試期間，時(shí)鐘門控邏輯會將時(shí)鐘門控到在 100Mhz 下正常運(yùn)行的域（通過除以 2 邏輯）。
如圖 5所示，在系統(tǒng)時(shí)鐘為 200Mhz 的第 1 輪全速測試期間，時(shí)鐘門控邏輯會將時(shí)鐘門控到在 100Mhz 下正常運(yùn)行的域（通過除以 2 邏輯）。但在第 2 輪中，當(dāng)系統(tǒng)時(shí)鐘設(shè)置為 100Mhz 時(shí)，時(shí)鐘門控單元的使能將被驅(qū)動為邏輯 1。這將確保邏輯現(xiàn)在以 100Mhz 的預(yù)期頻率進(jìn)行測試。
使用上述指南，應(yīng)該可以解決大多數(shù)與過度測試和測試不足相關(guān)的問題。但萬一被迫在測試不足和過度測試之間做出選擇，決定取決于 SoC 的應(yīng)用。汽車設(shè)計(jì)中，人身安全是首要考慮因素，應(yīng)該選擇安全的過度測試方法，而在功耗大的設(shè)計(jì)，例如在網(wǎng)絡(luò)和無線領(lǐng)域，需要進(jìn)行測試。即使對于這些情況，也應(yīng)盡一切努力確保與所需頻率的偏差盡可能小。
讓我們舉一個(gè)具有多個(gè)頻率時(shí)鐘的設(shè)計(jì)示例，這將有助于理解這個(gè)概念：
假設(shè)一個(gè)設(shè)計(jì)在 240MHz 上工作，我們有一個(gè) 2、3、4 等的多周期用于各種路徑。還有一些接口工作在 10MHz 和 60MHz 的外部時(shí)鐘上。為避免任何類型的過度測試或測試不足，請?jiān)谌倌Ｊ较露啻瓮ㄟ^測試。在 240、120、80、60MHz 下配置 PLL，并以實(shí)際功能速度測試所有邏輯。
? 第一遍：@240MHz - 所有單周期路徑（掩碼 100MHz 和 60MHz 接口，其余 SDC 是標(biāo)準(zhǔn)的）
? 第二遍：@120MHz – 多周期 2 的路徑（從 SDC 中刪除多周期 2 異常）+ 100MHz 接口邏輯（過度測試化）
? 第三遍：@80MHz – 多周期為 3 的路徑（刪除 2 和 3 的所有多周期異常）
? 第四遍：@60MHz – 4條路徑+60mhz接口邏輯的多周期路徑（去除所有多周期異常）
結(jié)論
隨著 SoC 的功能變得越來越復(fù)雜以及技術(shù)向更低的節(jié)點(diǎn)轉(zhuǎn)移，良好的成品率被證明是任何設(shè)計(jì)公司的一個(gè)重要關(guān)注點(diǎn)。收益率直接影響損益方程式，需要認(rèn)真努力解決低收益率的原因。實(shí)速測試是衡量硅質(zhì)量的重要標(biāo)準(zhǔn)，因此我們應(yīng)該以高覆蓋率為目標(biāo)。但同時(shí)，我們應(yīng)該只在適當(dāng)?shù)臅r(shí)鐘頻率下運(yùn)行我們的實(shí)速模式，因?yàn)樵阱e誤的時(shí)鐘頻率下測試會導(dǎo)致問題過度測試或測試不足。這兩種情況（測試不足和測試過度）既不利于設(shè)計(jì) QOR，也不利于良率估算。
測試時(shí)鐘應(yīng)該與功能時(shí)鐘同等重要，并且應(yīng)該努力為不同的域提供相同頻率的時(shí)鐘，因?yàn)樗鼈冊诠δ苡蛑斜挥?jì)時(shí)。同時(shí)，應(yīng)該對多周期路徑給予相當(dāng)大的關(guān)注，因?yàn)樗鼈兺ǔ?gòu)成任何設(shè)計(jì)中時(shí)序路徑的重要組成部分。At-speed testing in multiple pass是解決多周期路徑at-speed testing的方法。Multipass測試方法也可以用來解決其他過度測試和under-testing的情況。因此，總而言之，使用上述建議和方法，我們可以實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的全速覆蓋，這反過來將確保我們在不影響設(shè)計(jì) QOR 的情況下將良率下降問題降至。
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